DED 为金属 3D 打印的主流技术路线之一:金属 3D 打印主要技术路线为 PBF(粉末床熔融)和 DED(定向能量沉积)。 DED 属于利用聚焦热...
2026-05-06 38 智能制造行业报告
高功率电子器件热管理问题愈发严峻,散热会明显影响电子器件性能、寿命、 安全性。近年来,随着电子器件遵循着摩尔定律逐步向集成化、高热流密度和微 小型化的快速发展,其热管理问题正变得越来越严峻,譬如高性能 AI 芯片的功 耗动辄超过 700W,热流密度可超过 1kW/cm²;高功率 GaN/SiC 器件在电动汽车和 数据中心应用中,热量集中且快速产生;光通信模块和激光器对散热均匀性、热 响应速度有极高要求。以芯片为例,有效清除集成电路芯片(如 CPU 和 GPU)产生 的热量对保证系统的持续、稳定和平稳运行越来越重要,如果散热跟不上,不仅 会影响性能,还可能缩短寿命甚至引发安全隐患。研究发现,电子元器件的可靠 性对温度十分敏感,当电子元器件的工作温度达到70~80℃后,温度每上升 1℃, 其可靠性就会降低 5%。超过 55%的电子设备失效的主要原因是温度过高。

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