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2024-03-05 20 新材料及矿产报告
衬底环节是金属材料在半导体器件中的关键环节,所谓衬底即是一种用于制 造半导体器件的材料基底,常见的衬底包括硅、锗、碳化硅等。在生产半导体芯 片的工艺流程中,晶圆生产通常为第一道工序,而晶圆便是由衬底材料切割而来。 从半导体的发展历史看,半导体衬底材料经历了三代的更新迭代,并正在向 着第四代材料稳步迈进。其中第一代半导体材料以锗(Ge)和硅(Si)为主, 其中锗目前半导体应用较少,而硅仍是目前最主流的半导体衬底材料;第二代半 导体材料以砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、 锑化铟(InSb) 和硫化镉(CdS) 等 I-V 族化合物材料为主,由于化合物半导体的宽禁带优势以及下游应用领域的进一步 发展,砷化镓与磷化铟未来的使用量将提升;第三代半导体材料则是以碳化硅 (SiC)、氮化镓 (GaN)、氧化锌(ZnO)和氮化铝(AIN) 等为代表的宽禁带(禁带宽 度大于 2.2eV)半导体材料,其中碳化硅与氮化镓备受关注;而第四代半导体材 料主要包括氮化铝(AlN)、金刚石、氧化镓(Ga2O3),它们被称为超宽禁带半 导体材料,目前尚处于起步阶段。从四代半导体的性能参数对比看,第一代半导体表现出较低的禁带宽度、介 电常数以及击穿电场,其优势在于低廉的成本以及成熟的工艺,因此更加适应低 压、低频、低温的工况。 第二代半导体材料具有发光效率高、电子迁移率高、适于在较高温度和其它 条件恶劣的环境中工作等特点,同时工艺较第三代半导体材料更为成熟,主要被 用来制作发光电子、高频、高速以及大功率器件,在制作高性能微波、毫米波器 件方面是绝佳的材料。 第三代半导体材料随着智能时代的来临而备受青睐,禁带宽度明显增加,击 穿电压较高,抗辐射性强,电子饱和速率、热导率都很高。基于上述特性第三代 半导体材料不仅能够在高压、高频的条件下稳定运行,还可在较高的温度环境下 保持良好的运行状态,并且电能消耗更少,运行效率更高。 而第四代半导体材料显示出最大的优势便是其更宽的禁带宽度,因此其更适 合应用于小尺寸、高功率密度的半导体器件。 半导体代际区分的关键指标为“巴利加优值”,它以 IEEE 荣誉勋章获得者 B.贾扬特•巴利加(B.Jayant Baliga)的名字命名。本质上,它表示的是器件 的输出在高电压下对输入信号细节的再现程度,优值越高,再现程度越完整。我 们假设第一代半导体硅基材料的优值为 1,第二代半导体材料优值需要达到其 10 倍以上,第三代半导体材料优值需要达到其 100 倍以上,第四代半导体材料 优值需要达到其 1000 倍以上。
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