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2024-05-10 38 电子行业报告
CoWoS-S 升级迭代,中介层面积增加、多芯片翘曲等带来升级过程诸多挑 战。CoWoS 能够在紧凑平面并排集成多个芯片,提供更高集成度,目前已广 泛用于 HPC 和 AI 芯片的封装。为能够排列更多芯片、容纳更多晶体管从而 提高系统性能,中介层面积需要不断扩大。通过四重掩模光刻拼接技术,台 积电 CoWoS-S5 将硅中介层面积扩展到相当于三个完整掩模尺寸,最多已能 够实现 3 颗 SoC 芯片和 8 个颗 HBM 共封。在继续增加硅中介层尺寸至下一 代 4x 掩膜版尺寸过程中,超过四重掩模拼接的光刻过程复杂性带来了中介 层制造大量生产效率损失。不同掩模间边界拼接误差控制也非常具有挑战。 此外不同堆叠方式和材料构成的顶层芯片翘曲行为非常复杂、不易控制。 CoWoS-L 无需掩膜拼接,解决大型硅中介层良率问题,带来更高灵活性。 CoWoS-L 中介层包括多个局部硅互连(LSI)芯片和全局重布线(global RDL),形成一个重组中介层(RI),以替代 CoWoS-S 中的单片硅中介层。 LSI 芯片保留了硅中介层的所有优秀特性,包括保留亚微米铜互连、硅通孔 (TSV)和嵌入式深沟槽电容器(eDTC),以确保良好的系统性能,同时避 免了单个大型硅中介层的良率损失问题。此外,RI 中引入了绝缘体通孔 (TIV)作为垂直互连,比 TSV 插入损耗更低。目前台积电已成功实现具有 3 倍掩膜版尺寸的中介层的 CoWoS-L 结构,搭载多个 SoC/芯片和 8 个 HBM, 稳定的可靠性结果和卓越的电气性能表明,CoWoS-L 架构有望延续 CoWoS-S 的扩展势头,以满足未来 2.5D 系统在 HPC 和 AI 深度学习中的需求。 从产业链角度,OSAT 厂商有望在 CoWoS-L 结构中承担更重要的角色。目前 台积电 CoWoS 平台仍然是全球主流 2.5D 封装解决方案。CoWoS-L 结合 InFO 和 CoWoS 的优势,将硅桥、无源器件和 RDL 等集成,从而优化良率、控制翘 曲、提升系统性能。CoWoS-L 的工艺流程包括制造中介层、在中介层双面制 造 RDL、制造 LSI 芯片以及嵌入新一代 eDTC。相比 CoWoS-S 中介层整片晶 圆的应用,OSAT 厂商对 CoWoS-L 的 TIV 及有机中介层上下表面 RDL 技术都 比较成熟,OSAT 厂商在 CoWoS-L 结构中的角色有望比在 CoWoS-S 中更重要。 TCB、临时键合设备、电镀设备重要性日益凸显。相比硅中介层,CoWoS-L 的 有机中介层与顶层芯片 CTE 差别更大。热压键合在高精度键合领域表现更 为出色,使用 TCB 可以封装更薄的芯片,也可以使 I/O 间距更小。HBM 制造 常用 TCB,而随着封装系统复杂度提升、尺寸更大、材料变化,我们预计 TCB 在 2.5D 及 3D 封装中应用也会更加广泛。CoWoS-L 中介层由硅转变为有机中 介层,有机中介层在临时载晶圆上制造,因此我们认为增加对临时键合/解 键合设备及材料的需求。此外,高密度晶圆级 Fan-Out 封装增加对电镀大 铜柱需求。Lam 推出 SABRE® 3D 系列设备用于先进封装的 WLP 和 TSV 结构。
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