中国光电传感器行业报告（38页）

X 射线传感器：接收 X 射线并转化输出可用电信号的传感器。目前，X 射线传感 器多用于 X 射线成像设备中，如 CT 断层扫描中 X 射线拍照、牙科 X 射线成像及安检中的 X 射线扫描成像；  （2）紫外传感器：接收紫外信号并转化为电信号的传感器。根据应用领域不同，紫外 传感器通常又可细分为可见光盲紫外传感器和太阳光盲紫外传感器；  （3）可见光传感器：其测量对象为可见光，可将接收到的可见光转换成输出电信号。 可见光的波长范围在 380mm 至 760mm，该范围是电磁波谱中人眼可识别波段。根据组成 传感器的关键元件不同，可见光传感器又可分为低端传感器、中端传感器及高端传感器三种 。

光电传感器检测作为光电传感器制造的重要环节，决定着光电传感器产品质量及稳定性。 光电传感器的检测模式一般分为对射式、反射式、偏振式、镜面式、漫反射式、会聚式、光 幕及激光扫描器八种。其中，对射式是最早出现的一种光电检测模式，具有简单易操作的特 点。该模式下发射器的光直接对准接收器，当被检测物体移动并挡住光路时，传感器输出信 号发生变化表明探测到待测物体。目前，反射式是应用较多的一种常用检测模式。该模式中， 发射器以多种角度发射光线至待测物体表面，同时光线在待测物体表面以多角度将入射光反 射至接收器。由于不同待测物体表面材质及光滑度不同导致对光的吸收率不同。

硅在自然界是丰度最高的元素之一，占地壳的 25%，中国境内的高纯度硅矿含量至少 在 140 亿吨以上，储量丰富。而受高质量制备合成技术被美、日垄断的限制，GaA、GaN 和 SiC 的价格比硅昂贵。以第三代 GaN 半导体材料为例，截至目前，大部分 GaN 材料的 国际专利申请主要来源于日本、美国、韩国，日本在美国的相关专利申请比例达 34.5%，美 国在 WO 和日本的相关专利申请比例分别为 37.4%和 24.9%，韩国在美国的相关专利申请 比例高达 48.1%。而中国在国际范围内的相关专利申请与上述三个国家相差甚远。因此，目 前中国光电传感器行业中硅材料半导体的使用量占比仍高达 90%，高端光电传感器所用的 第二代和第三代高质量半导体材料多依靠进口，在高端市场中，中国半导体材料供应商不具 备议价能力。